Wydarzenia w listopadzie 2019:
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Magnetyków i Zjawisk Kooperatywnych
Dnia: 29.11.2019 roku (piątek)
o godzinie 10:00 w auli
referat pt.:
Stany Majorany w nadprzewodzącym drucie z oddziaływaniem kulombowskim na węzłach
wygłosi
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Miękkiej Materii i Materiałów Funkcyjnych
Dnia: 28.11.2019 roku (czwartek)
o godzinie 09:30 w sali 227
referat pt.:
Współczynnik Poissona w kryształach twardych kul z periodycznymi inkluzjami nanowarstw (001) kul o innych rozmiarach przy różnych wartościach ciśnienia zewnętrznego
wygłosi
SEMINARIUM INSTYTUTOWE
przed wszczęciem postępowania habilitacyjnego
Dnia: 27.11.2019 roku (środa)
o godzinie 13:00 w auli
referat pt.:
Defekty a niestabilność sieci krystalicznej
w antyferroelektrycznym PbZrO3
wygłosi
Instytut Fizyki, Uniwersytet Śląski, Katowice
PUBLICZNA OBRONA ROZPRAWY DOKTORSKIEJ
Dnia: 26.11.2019 roku (wtorek)
o godzinie 12:00 w Auli Instytutu
odbędzie się publiczna obrona rozprawy doktorskiej
pt.:
Nierównowagowa fizyka statystyczna układów kropek kwantowych: fluktuacje prądowe i termodynamika przepływu informacji
prof. dr hab. Jerzy Łuczka (Instytut Fizyki, Uniwersytet Śląski) - recenzjaprof. dr hab. Ireneusz Weymann (Wydział Fizyki, Uniwersytet im. Adama Mickiewicza) - recenzja
Streszczenie rozprawy doktorskiej w języku polskim i w języku angielskim
Rozprawa doktorska wraz z recenzjami znajduje się w Bibliotece IFM PAN
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Dielektryków i Spektroskopii Molekularnej
Dnia: 25.11.2019 roku (poniedziałek)
o godzinie 10:00 w auli
referat pt.:
Własności braunmilerytów Ca2Fe2-xAlxO5 wyznaczone z widma impedancji
wygłosi
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Magnetyków i Zjawisk Kooperatywnych
Dnia: 22.11.2019 roku (piątek)
o godzinie 10:00 w auli
referat pt.:
Cienkowarstwowe fazy MAX i MXenes
wygłosi
SEMINARIUM INSTYTUTOWE
Dnia: 20.11.2019 roku (środa)
o godzinie 13:00 w auli
referat pt.:
Podstawy oraz możliwości Spektrometrii Mas Jonów Wtórnych (SIMS)
wygłosi
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, Warszawa
Spektrometria Mas Jonów Wtórnych (Secondary Ion Mass Spectroscopy - SIMS) jest destrukcyjną metodą badania polegającą na trawieniu powierzchni próbki poprzez bombardowanie wiązką jonów pierwotnych, a następnie przeprowadzając analizę masową zjonizowanej materii określa się skład pierwiastkowego badanej próbki. Wraz z odtrawianiem kolejnych warstw materiału uzyskuje się informacje dotyczącą zmiany kompozycji próbki funkcji głębokości, tzw. profil wgłębny. Spektrometr CAMECA IMS SC Ultra pozwala na uzyskanie subnanometrowej rozdzielczości wgłębnej. Jest to bardzo czuła metoda, pozwalająca na wykrywanie większości zanieczyszczeń i domieszek o koncentracji rzędu 1015 at/cm3 (w niektórych przypadkach nawet 1012 at/cm3). Dzięki niej można określać poziomy domieszek, oceniać stabilność warstw, wyznaczać parametry dyfuzji oraz opisywać inne zjawiska zachodzące podczas wytwarzania i obróbki próbek.SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Dielektryków i Spektroskopii Molekularnej
Dnia: 18.11.2019 roku (poniedziałek)
o godzinie 10:00 w auli
referat pt.:
Ferroelectric-relaxor crossover in (1-x)Pb(Fe0.5Nb0.5)O3-xBiFeO3 solid solutions
wygłosi
Jožef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Magnetyków i Zjawisk Kooperatywnych
Dnia: 15.11.2019 roku (piątek)
o godzinie 10:00 w auli
referat pt.:
Magnetometria z zastosowaniem zdefektowanych diamentów
wygłosi
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Magnetyków i Zjawisk Kooperatywnych
Dnia: 08.11.2019 roku (piątek)
o godzinie 10:00 w auli
referat pt.:
Przykład nieporządku w Pd2MnGe badany metodami DFT
wygłosi
SEMINARIUM
Oddziału Fizyki Dielektryków i Spektroskopii Molekularnej
Dnia: 04.11.2019 roku (poniedziałek)
o godzinie 11:00 w auli
referat pt.:
Separacja izotopu He3 - problem czystej energii
wygłosi